数理科学与化学 类型
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153千字 字数
2018-07-01 发行日期
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主编推荐语

本书结合理论实践，实现精确器件选型和电路设计隐患分析。

内容简介

本书将器件选型参数计算与工程设计实践相结合，通过理论指导实践，实现容差设计、电压容限分析，从而达到精确量化掌握器件选型的目标。本书的目的是通过讲述工程设计中哪些参数需要做计算，利用哪些数学知识，如何计算，并通过计算如何发现电路的设计隐患，搭建起理论与工程实践的桥梁。

目录

  • 封面
  • 书名页
  • 内容简介
  • 版权页
  • 序言
  • 前言
  • 目录
  • 第1章　电子工程数学基础
  • 1.1　基础代数应用
  • 1.2　 三角函数应用
  • 1.3　 微积分应用
  • 1.4　 复变函数
  • 1.4.1　 拉氏变换
  • 1.4.2　 Z变换
  • 1.5　 泰勒级数
  • 1.6　 傅里叶级数与傅里叶变换
  • 1.6.1　 傅里叶级数
  • 1.6.2　 傅里叶变换
  • 1.6.3　 傅里叶变换与工程应用
  • 1.7　 统计过程控制与正态分布
  • 1.8　 PID控制数学基础
  • 1.9　 电路设计机理
  • 1.9.1　 电子工程数学应用机理
  • 1.9.2　 工程设计判据
  • 第2章　系统设计通用计算技术
  • 2.1　 应力计算
  • 2.1.1　 过渡过程应力
  • 2.1.2　 温度应力
  • 2.1.3　 基础元器件隐含特性分析
  • 2.2　 降额
  • 2.2.1　 降额总则
  • 2.2.2　 电阻降额
  • 2.2.3　 电容降额
  • 2.2.4　 集成电路降额
  • 2.2.5　 分立半导体元件降额
  • 2.2.6　 电感降额
  • 2.2.7　 继电器降额
  • 2.2.8　 开关降额
  • 2.2.9　 功率开关元器件降额
  • 2.2.10　 连接器降额
  • 2.2.11　 导线与电缆降额
  • 2.2.12　 保险丝降额
  • 2.2.13　 晶体降额
  • 2.2.14　 电机降额
  • 2.2.15　 降额设计补充规范与案例
  • 2.3　 热设计计算
  • 2.3.1　 传导散热计算
  • 2.3.2　 风冷对流散热计算
  • 2.4　 精度分配
  • 2.4.1　 最坏电路情况分析法
  • 2.4.2　 偏微分法
  • 2.5　 可靠性量化评估
  • 2.5.1　 MTBF理论基础
  • 2.5.2　 可靠性串/并联模型
  • 2.5.3　 可靠度评估公式
  • 2.6　 阻抗匹配
  • 2.6.1　 放大电路阻抗匹配
  • 2.6.2　 功率驱动电路阻抗匹配
  • 2.6.3　 高频电路阻抗匹配
  • 2.7　 蒙特卡罗分析方法
  • 2.7.1　 概述
  • 2.7.2　 设计分析案例
  • 第3章　分立元器件应用计算
  • 3.1　 电阻
  • 3.1.1　 放大电路电阻选型计算
  • 3.1.2　 上拉电阻选型计算
  • 3.1.3　 电阻耐压选型
  • 3.1.4　 电阻功率计算
  • 3.1.5　 电阻串/并联使用计算
  • 3.1.6　 0 Ω电阻的应用
  • 3.2　 电容
  • 3.2.1　 电容的参数指标
  • 3.2.2　 储能电容应用计算
  • 3.2.3　 退耦滤波电容选型计算
  • 3.2.4　 运算电容选型计算
  • 3.2.5　 隔离电容选型计算
  • 3.3　 电感
  • 3.4　 磁珠
  • 3.5　 插头插座
  • 3.6　 导线
  • 3.6.1　 金属线缆
  • 3.6.2　 PCB布线
  • 3.7　 保险丝
  • 3.8　 TVS
  • 3.9　 压敏电阻
  • 3.10　 气体放电管
  • 3.11　 散热片
  • 3.12　 风扇
  • 3.13　 晶体振荡器
  • 3.14　 二极管
  • 第4章　集成元器件应用计算
  • 4.1　数字IC
  • 4.2　 A/D转换器
  • 4.2.1　 ADC选型参数
  • 4.2.2　 ADC软件运算精度
  • 4.2.3　 ADC抗干扰措施
  • 4.3　 运算放大器
  • 4.3.1　 运算放大器参数指标分析
  • 4.3.2　 单端输入运算放大电路计算
  • 4.3.3　双端差分输入运算放大电路计算
  • 4.3.4　 集成运放技巧
  • 4.4　 电源滤波器
  • 4.5　 传感器
  • 4.6　 LDO电源模块
  • 4.7　 功率开关管
  • 4.7.1　 功率开关管失效机理
  • 4.7.2　 功率开关管防护设计
  • 4.8　 软件计算
  • 第5章　电子产品统计过程控制（SPC）
  • 5.1　 选点及数据采集
  • 5.1.1　 选点
  • 5.1.2　 数据采集
  • 5.2　 控制图的制作
  • 5.2.1　 直方图的制作
  • 5.2.2　 均值极差图制作
  • 5.2.3　 均值标准差图的制作
  • 5.2.4　 不合格品数np图的制作
  • 5.2.5　 不合格品数c图的制作
  • 5.3　 过程能力指数的计算
  • 5.3.1　 过程能力指数的计算
  • 5.3.2　 提高过程能力指数的方法
  • 5.4　 统计控制状态
  • 附录A　过程能力指数与不合格率的关系表
  • 附录B　过程能力指数Cp值的评价参考表
  • 附录C　SPC统计过程控制实例
  • C.1　设备验收测试数据统计分析质控方法
  • C.2　 结论
  • 反侵权盗版声明
  • 封底
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出版方

电子工业出版社

电子工业出版社成立于1982年10月，是国务院独资、工信部直属的中央级科技与教育出版社，是专业的信息技术知识集成和服务提供商。经过三十多年的建设与发展，已成为一家以科技和教育出版、期刊、网络、行业支撑服务、数字出版、软件研发、软科学研究、职业培训和教育为核心业务的现代知识服务集团。出版物内容涵盖了电子信息技术的各个分支及工业技术、经济管理、科普与少儿、社科人文等领域，综合出版能力位居全国出版行业前列。