计算机
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309千字
字数
2025-06-01
发行日期
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主编推荐语
助你快速建立SSD测试知识体系。
内容简介
本书的主要内容如下。
SSD测试概述(第1章),介绍SSD和SSD测试相关的基础知识,包括什么是SSD测试、SSD测试的目的和重要性、对SSD测试从业者和团队的基本要求等重点内容。
SSD产品测试(第2~5章),首先基于立项、计划、设计与开发、执行、总结这几个阶段介绍SSD测试的主要工作内容及对应实现方法,然后分享SSD测试的分类以及不同类型测试的设计与实现方法,最后解读SSD的通用测试平台、测试软件和专业测试平台。
主控芯片测试(第6章),剖析用于主控芯片测试的主要软硬件平台,及在对应平台上进行主控芯片测试的方法。
闪存测试(第7章),深入分析闪存的失效模式,以及闪存测试的主要方法。
测试认证(第8章),完整解读业界主要的SSD认证测试项目,包括PCI-SIG、UNH-IOL、WHQL以及国内测试标准等。
仪器与设备(第9章),重点介绍用于SSD测试的仪器设备,包括RDT可靠性测试设备、协议分析仪等。
目录
- 版权信息
- 赞誉
- 推荐序一
- 推荐序二
- 推荐序三
- 前言
- 致谢
- 第1章SSD测试概览
- 1.1 SSD概述
- 1.1.1 SSD的基础知识
- 1.1.2 SSD的分类
- 1.1.3 SSD的发展趋势
- 1.2 SSD测试概览
- 1.2.1 SSD测试是什么
- 1.2.2 SSD测试的目的和重要性
- 1.2.3 SSD测试中的VU命令
- 1.2.4 SSD测试工程师的基本素养
- 1.2.5 测试团队的职能定位
- 1.2.6 SSD测试总结
- 第2章SSD测试流程
- 2.1 测试立项阶段
- 2.1.1 BRD
- 2.1.2 MRD
- 2.1.3 PRD
- 2.2 测试计划阶段
- 2.2.1 测试需求分析
- 2.2.2 测试资源的准备
- 2.3 测试设计与开发阶段
- 2.3.1 测试用例与脚本的区别
- 2.3.2 测试用例设计
- 2.3.3 测试标准制定
- 2.3.4 脚本开发
- 2.3.5 测试工具开发
- 2.3.6 测试驱动开发
- 2.3.7 测试自动化开发
- 2.4 测试执行阶段
- 2.4.1 测试平台搭建
- 2.4.2 测试用例执行
- 2.4.3 测试缺陷管理
- 2.5 测试总结阶段
- 2.5.1 测试结果评审
- 2.5.2 遗留问题的跟踪与闭环
- 第3章SSD测试管理
- 3.1 测试与固件的分工与合作
- 3.1.1 明确角色和责任
- 3.1.2 建立沟通机制
- 3.1.3 串讲与反串讲
- 3.1.4 测试标准意见一致
- 3.1.5 测试如何协同固件进行问题定位
- 3.1.6 客诉问题的处理
- 3.2 测试自动化
- 3.2.1 测试自动化的意义
- 3.2.2 测试平台管理
- 3.2.3 测试SSD盘片管理
- 3.2.4 测试资源自动化调度
- 3.2.5 测试问题单管理
- 3.2.6 持续集成自动化
- 3.3 生命周期维护管理
- 3.3.1 常见RMA失效模式
- 3.3.2 生命周期维护阶段的测试工作
- 第4章SSD测试分类、设计与实现
- 4.1 SSD测试的分类
- 4.1.1 SSD白盒测试与黑盒测试
- 4.1.2 项目不同阶段的SSD测试
- 4.1.3 按照测试内容分类
- 4.2 SSD测试的设计与实现
- 4.2.1 SSD协议符合性测试与认证测试
- 4.2.2 SSD功能测试
- 4.2.3 SSD上下电测试
- 4.2.4 SSD性能测试
- 4.2.5 SSD兼容性测试
- 4.2.6 SSD压力测试
- 4.2.7 SSD功耗测试
- 4.2.8 SSD可靠性与数据保持测试
- 4.3 SSD生产阶段的测试
- 4.3.1 SSD生产阶段测试的内容
- 4.3.2 SSD生产阶段测试的流程
- 4.3.3 SSD生产阶段测试的监控
- 4.3.4 SSD生产阶段测试的工具与平台
- 4.3.5 SSD生产阶段测试与研发阶段测试的区别
- 4.4 SSD导入阶段的测试
- 4.4.1 消费级OEM SSD导入测试和厂商测试流程
- 4.4.2 企业级SSD产品导入测试和厂商测试流程
- 4.4.3 案例1:大普微R6100 PCIe 5.0 x4企业级SSD导入部分测试
- 4.4.4 案例2:江波龙企业级SSD厂商测试流程
- 4.5 SSD测试中的注意事项
- 4.5.1 针对SSD竞品的测试
- 4.5.2 SSD测试的核心:数据正确性
- 4.5.3 SSD测试的管理
- 4.6 SSD产品评测
- 4.7 案例:长江存储消费级PC41Q PCIe 4.0 x4 QLC SSD
- 4.7.1 X3-6070 QLC NAND
- 4.7.2 PC41Q PCIe 4.0 x4 QLC SSD
- 4.7.3 日常PC使用的存储负载分析
- 第5章SSD测试工具和平台
- 5.1 测试的硬件平台
- 5.2 SSD测试软件
- 5.2.1 CrystalDiskMark
- 5.2.2 fio
- 5.2.3 PyNVMe3
- 5.2.4 测试软件对比
- 5.3 专业测试平台
- 5.3.1 研发测试和产品检测
- 5.3.2 研发测试的需求
- 5.3.3 测试平台介绍
- 5.3.4 专业测试平台的设计
- 5.4 PyNVMe3脚本开发
- 5.4.1 平台介绍
- 5.4.2 类和方法概述
- 5.4.3 驱动的特性
- 5.4.4 实例解析
- 第6章主控芯片验证
- 6.1 主控芯片验证概述
- 6.2 硅前验证
- 6.2.1 FPGA原型验证
- 6.2.2 Emulator仿真加速器
- 6.2.3 硬件/软件联合仿真
- 6.3 硅后验证
- 6.3.1 PVT测试
- 6.3.2 PCIe接口验证
- 6.3.3 闪存接口验证
- 6.3.4 LDPC解码能力验证
- 6.3.5 DDR验证
- 6.3.6 电源轨及功耗验证
- 6.4 DFT与ATE
- 6.4.1 DFT
- 6.4.2 ATE
- 第7章闪存及其测试
- 7.1 闪存概述
- 7.1.1 闪存组织结构
- 7.1.2 3D闪存未来发展之路
- 7.1.3 3D闪存发展的未来挑战
- 7.2 闪存失效模式
- 7.2.1 用户使用角度的闪存失效模式
- 7.2.2 内部角度的闪存失效模式
- 7.3 闪存测试
- 7.3.1 闪存芯片测试流程
- 7.3.2 闪存品质测试
- 7.3.3 闪存导入测试
- 7.3.4 闪存性能测试
- 7.3.5 闪存功耗测试
- 第8章SSD相关测试认证
- 8.1 PCI-SIG合规性测试
- 8.1.1 物理层测试
- 8.1.2 协议测试
- 8.1.3 互操作测试
- 8.2 UNH-IOL的NVMe认证测试
- 8.3 WHQL测试与认证
- 8.3.1 WHCK与WHLK
- 8.3.2 WHLK测试平台架构
- 8.3.3 WHLK部署方案
- 8.3.4 WHLK搭建测试环境的步骤
- 8.4 雅典娜测试与认证
- 8.4.1 雅典娜计划
- 8.4.2 关键测试指标
- 8.4.3 RVP测试平台
- 8.4.4 测试内容举例
- 8.5 Chromebook测试与认证
- 8.6 国密认证
- 8.6.1 认证依据
- 8.6.2 认证模式
- 8.6.3 认证单元划分
- 8.6.4 认证实施
- 8.6.5 认证时限
- 8.6.6 认证证书
- 8.7 国内SSD测试标准
- 8.7.1 国家标准——GB/T 36355—2018
- 8.7.2 行业标准
- 第9章SSD测试仪器与设备
- 9.1 SSD RDT可靠性测试设备
- 9.1.1 SSD RDT可靠性测试内容
- 9.1.2 全球SSD RDT可靠性设备行业标杆——爱德万MPT3000EV2
- 9.1.3 国产SSD RDT可靠性设备标杆——德伽G6508P
- 9.1.4 SSD RDT可靠性测试设备——鸾起Phoenix系列
- 9.2 SSD研发测试设备
- 9.3 PCIe协议分析仪和训练器
- 9.3.1 PCIe协议分析仪和训练器的功能
- 9.3.2 力科PCIe协议分析仪和训练器
- 9.4 误码仪和示波器等高速设备
- 9.5 功耗电源测试设备
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出版方
机械工业出版社
机械工业出版社是全国优秀出版社,自1952年成立以来,坚持为科技、为教育服务,以向行业、向学校提供优质、权威的精神产品为宗旨,以“服务社会和人民群众需求,传播社会主义先进文化”为己任,产业结构不断完善,已由传统的图书出版向着图书、期刊、电子出版物、音像制品、电子商务一体化延伸,现已发展为多领域、多学科的大型综合性出版社,涉及机械、电工电子、汽车、计算机、经济管理、建筑、ELT、科普以及教材、教辅等领域。