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135千字 字数
2010-01-01 发行日期
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石墨烯材料计量与质量评价技术概要。

内容简介

《石墨烯材料质量技术基础：计量》共七章。前两章主要介绍了计量与材料计量的基本概念，以及石墨烯材料计量、标准的规划设计及框架。后五章主要介绍了石墨烯材料质量评价中关于真假判断的部分计量技术。第3章介绍了石墨烯材料拉曼光谱计量技术，第4章介绍了X射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构，第5章介绍了原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度，第6章介绍了石墨烯材料电子显微镜计量技术，第7章介绍了石墨烯粉体化学成分测量技术。附录补充了X射线衍射仪的溯源性研究、掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准的内容。

目录

  • 版权信息
  • 内容提要
  • 战略前沿新材料——石墨烯出版工程丛书编委会
  • 《石墨烯材料质量技术基础：计量》编委会
  • 总序一
  • 总序二
  • 丛书前言
  • 前言
  • 第1章 计量与材料计量
  • 1.1 计量概述
  • 1.2 计量与测量
  • 1.2.1 测量
  • 1.2.2 计量
  • 1.2.3 计量特点
  • 1.3 测量误差与测量不确定度
  • 1.3.1 测量误差
  • 1.3.2 测量不确定度
  • 1.4 标准物质
  • 1.5 计量的作用
  • 1.5.1 计量对国民经济的作用
  • 1.5.2 计量在基础研究中的作用
  • 1.6 材料计量概述
  • 1.6.1 材料计量研究内容
  • 1.6.2 材料计量研究成果及社会服务
  • 1.6.3 材料计量国内外现状
  • 1.7 国际计量组织
  • 1.7.1 国际计量局（BIPM）
  • 1.7.2 亚太计量规划组织（APMP）
  • 1.7.3 先进材料与标准凡尔赛合作计划（VAMAS）
  • 1.8 计量比对
  • 1.9 总结与展望
  • 1.9.1 总结
  • 1.9.2 展望
  • 参考文献
  • 第2章 国家质量基础设施及石墨烯材料计量
  • 2.1 我国古代质量观——度量衡
  • 2.2 现代质量观——国家质量基础设施
  • 2.3 计量在国家质量基础设施中的基础地位
  • 2.4 纳米技术对计量技术的需求
  • 2.5 石墨烯材料产业国家质量基础设施技术发展
  • 2.6 石墨烯材料关键特性参数调研
  • 参考文献
  • 第3章 石墨烯材料拉曼光谱计量技术
  • 3.1 概述
  • 3.2 拉曼光谱仪溯源
  • 3.2.1 拉曼光谱测量原理
  • 3.2.2 拉曼频移的溯源
  • 3.2.3 拉曼相对强度的溯源
  • 3.3 拉曼频移和相对强度标准物质的研制
  • 3.3.1 拉曼频移标准物质
  • 3.3.2 拉曼相对强度标准物质
  • 3.4 基于拉曼频移和相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法
  • 3.4.1 基于拉曼频移标准物质校准拉曼光谱仪的方法
  • 3.4.2 基于拉曼相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法
  • 3.5 石墨烯材料拉曼光谱测量标准方法
  • 3.5.1 测量方法研究
  • 3.5.2 标准方法建立过程中的国内比对
  • 3.6 小结
  • 参考文献
  • 第4章 X射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构
  • 4.1 概述
  • 4.2 设备溯源和校准
  • 4.2.1 设备溯源
  • 4.2.2 设备校准
  • 4.3 测量方法研究
  • 4.3.1 测量样品准备
  • 4.3.2 取样原则
  • 4.3.3 测量条件
  • 4.3.4 图谱分析及数据处理
  • 4.4 计量比对
  • 4.5 标准方法
  • 4.6 小结
  • 参考文献
  • 第5章 原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度
  • 5.1 概述
  • 5.2 原子力显微镜技术原理
  • 5.3 原子力显微镜设备校准与溯源
  • 5.4 测量方法建立
  • 5.4.1 AFM扫描模式的选择
  • 5.4.2 AFM测量用基底的影响
  • 5.4.3 AFM测量参数的影响
  • 5.4.4 AFM数据分析处理的方法
  • 5.4.5 不确定度评定
  • 5.5 计量比对
  • 5.5.1 比对样品的选取
  • 5.5.2 国内比对
  • 5.5.3 国际比对
  • 5.6 测量方法标准化
  • 5.7 小结
  • 参考文献
  • 第6章 石墨烯材料电子显微镜计量技术
  • 6.1 扫描电镜测量石墨烯材料片层尺寸和覆盖度
  • 6.1.1 扫描电镜溯源及校准
  • 6.1.2 石墨烯片层尺寸测量方法
  • 6.1.3 大范围金属基底上石墨烯薄膜覆盖度的测量方法
  • 6.2 透射电镜测量石墨烯材料形貌、层数和层间距
  • 6.2.1 透射电镜校准溯源
  • 6.2.2 透射电镜放大倍率校准用标准物质
  • 6.2.3 透射电镜校准方法
  • 6.2.4 石墨烯形貌、层数和层间距的透射电镜测量方法
  • 6.3 小结
  • 参考文献
  • 第7章 石墨烯粉体化学成分测量技术
  • 7.1 概述
  • 7.2 XPS仪器测量要求
  • 7.2.1 XPS仪器简介
  • 7.2.2 XPS仪器检定校准
  • 7.2.3 XPS仪器检定校准用标准物质
  • 7.2.4 XPS仪器检测注意事项
  • 7.3 石墨烯粉体的C/O测量技术研究
  • 7.3.1 测量样品选取
  • 7.3.2 石墨烯粉体XPS测量方法开发
  • 7.3.3 石墨烯粉体C/O测量实例
  • 7.4 ICP-MS仪器测量要求
  • 7.5 石墨烯粉体中金属杂质测量技术研究
  • 7.5.1 测量样品处理
  • 7.5.2 石墨烯粉体的ICP-MS测量程序
  • 7.5.3 石墨烯粉体中金属杂质测量实例
  • 7.6 标准测量方法开发
  • 7.7 小结
  • 参考文献
  • 附录1 X射线衍射仪的溯源性研究
  • 附录2 掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准
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出版方

华东理工大学出版社

华东理工大学出版社是由教育部主管、华东理工大学主办的综合性大学出版社。自1986年11月成立之日起，就秉承母体华东理工大学格物穷理、励志勤学的学术传统和求实创新、追求卓越的精神品质，着力把自己铸造成为优秀的综合性大学出版社。